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更新時(shí)間：2017-07-12
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德國EPKMiniTest720/730/740涂層測(cè)厚儀 產(chǎn)品介紹：
- 新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線，加強(qiáng)了德國EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚的
- 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的性
- 測(cè)量范圍達(dá)15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯(cuò)
德國EPKMiniTest720/730/740涂層測(cè)厚儀 產(chǎn)品特點(diǎn)：
- SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加
- 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置)
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
- 溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
- 生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
- 大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
- 讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
- 超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
- 菜單指引操作，25種語言可選
- 帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
- 可下載更新軟件
德國EPKMiniTest720/730/740涂層測(cè)厚儀 技術(shù)參數(shù)：
主機(jī)型號(hào) | MiniTest720 | MiniTest730 | MiniTest740 |
探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 |
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 | 多10,000個(gè) | 多10,000個(gè) | 多100,000個(gè) |
統(tǒng)計(jì)值 | 讀值個(gè)數(shù)、小值、大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) | ||
校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) | ||
校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 | ||
極限值監(jiān)控 | 聲、光報(bào)警提示超過極限 | ||
測(cè)量單位 | μm，mm，cm；mils，inch，thou | ||
數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0(紅外接口) | ||
電源 | 2節(jié)AA電池 | ||
標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
操作溫度 /存放溫度 | - 10℃~60℃/- 20℃~70℃ | ||
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內(nèi)置)/230g(外置) |
探頭特性 | F1.5，N07，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | |||
F | N | F | F | N | F | ||
測(cè)量范圍 | 0~1.5mm | 0~0.7mm | 0~2mm | 0~5mm | 0~2.5mm | 0~15mm | |
使用范圍 | 小工件，薄涂層 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | |||
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | |
信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) | ||||||
度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | ||||
重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | ||||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | ||||
小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | ||||
小曲率半徑 | (凹，外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
(凹，內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | ||||
小測(cè)量面積 | Ø5mm | Ø10mm | Ø25mm | ||||
小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm | |
連續(xù)模式下測(cè)量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | ||||||
單值模式下大測(cè)量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) | ||||||
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